XRF の履歴(No.3)

蛍光X線分析装置 (XRF, X-ray fluorescence)†

機種	Rigaku，ZSX PrimusII（波長分散型）
分析元素	SiO2, TiO2, Al2O3, Cr2O3, FeO, MnO, MgO, NiO, CoO, CaO, SrO, BaO, Na2O, K2O, ZnO, ZrO2, MoO3, Ag2O, TeO2, Cs2O, La2O3, CeO2, Pr6O11, Nd2O3, Sm2O3, P2O3, Y2O3, Gd2O3 当研究室で標準試料を準備しており，分析実績のある成分です
測定原理	岩石試料にX線を照射すると、岩石に含まれる鉱物を構成している原子の内殻電子が弾き飛ばされます。このときできた空孔に外殻から電子が落ち込むときに、余ったエネルギーが特性X線（蛍光X線）として放射されます。この特性X線の波長と強度から、その岩石に含まれている原子の種類を分析し、濃度を定量することができます．
特徴	組成の異なる複数の相から構成されている岩石や材料の平均的な化学組成を測定するために用いられます．分析には試料を粉砕したのち融剤と混合してガラス化したガラスビードを用います．
設置場所	総合研究棟（総合環境理工学部6号館）2階化学分析エリア

このXRF装置の使用マニュアル

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