EPMA_method の履歴(No.1)

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  • 1 (2025-05-16 (金) 10:33:05)

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Iwate_chemistry1

EPMAによる分析条件†

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使用しているマイクロプローブは東工大理学部のJEOL, JXA-8800
補正計算はZAF

斜長石斑晶のリムと石基斜長石のFeOt分析および，カンラン石斑晶のリムのCaO分析では
菅原（2001，岩石鉱物科学）の方法により二次蛍光効果の補正計算を行っています。
カンラン石，輝石，磁鉄鉱に包有される斜長石の場合は補正量がみかけのFeOt量の
50％以上に達し，補正による誤差が大きいと予測されるためAn-FeOtプロットは作成していません。

斜長石†

電子線加速電圧＝15kV, 電流=12nA, Focused beam

カンラン石†

電子線加速電圧＝25kV, 電流=20nA, Focused beam

その他†

電子線加速電圧＝15kV, 電流=12nA
Crystal=Focused beam, Glass=5-20μm beam

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