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*電子線微小領域分析装置 (EPMA, Electron-probe micro analyzer) [#udd3746f]

#ref(epma2.jpg,left,30%)
|機種|JEOL JXA-8800（4ch 波長分散型）|
|分析元素|SiO2, B2O3, TiO2, Al2O3, Cr2O3, FeO, MnO, MgO, NiO, CoO, CaO, SrO, BaO, Na2O, K2O, P2O5, ZnO, La2O3, ZrO2, CeO2, Cs2O, Nd2O3, MoO3, PdO, Rh2O3, RuO2, 当研究室で標準試料を準備し、定量分析の実績のある成分です|
|特徴|　最小1μmまでの微少領域の定量化学分析をするための装置です．二次電子像や反射電子像で微細組織の観察もできます．ガラス材料のような均質試料の分析にはXRFよりもEPMAの方が分析試料の準備が容易で標準試料による校正も簡便です．また，岩石中の鉱物試料の化学組成分析にも使用されます．天然の岩石試料や相平衡実験試料の組織観察と化学分析をこの一台で同時にすることができます．|
|測定原理|　鏡面研磨した鉱物試料に細く絞った電子線を当てます。鉱物を構成している原子の内殻電子が弾き飛ばされて、外殻から電子が落ち込むときに余ったエネルギーが特性X線（蛍光X線）として放射されます。この特性X線を分光結晶で分光し、その波長と強度から、その鉱物に含まれている原子の種類を分析し、濃度を定量することができます．|
|設置場所|国際資源学部1号館|

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''このEPMA装置の使用マニュアル''
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[https://www.gipc.akita-u.ac.jp/~magma/pdf/JXA-8800_manual_171124.pdf JX-8800の使用マニュアルを見る]
[https://www.gipc.akita-u.ac.jp/~magma/pdf/JXA-8800_manual_171124.pdf JXA-8800の使用マニュアルを見る]