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#author("2025-05-06T18:47:46+09:00","","")
#author("2025-05-06T18:48:01+09:00","","")
*X線回折分析 (XRD, X-ray diffraction) [#a5aef224]

#ref(xrd1.jpg,center,50%)
#ref(xrd1.jpg,left,50%)
|機種|Rigaku, Mini Flex II|
|特徴|　固体試料中の結晶相の同定に使用します．当研究室では特に熱量測定に用いる合成試料が所望の結晶相となっている否かの確認，ガラス試料中の結晶相の有無の確認，模擬放射性廃棄物ガラス中の析出結晶相の分析などに用いています．|

|測定原理|　岩石や鉱物を粉砕して粉末状にした試料にX線を照射します．結晶相の結晶面に対して角度θで波長λのX線を照射すると，角度2θの位置に強めあったX線が反射X線として観察され，このとき2dsinθ=nλ(nは整数)の関係（ブラッグの法則）から，その結晶構造の面間隔dを知ることができます．様々な結晶の結晶構造と面間隔dが調べられ，結晶ごとに固有のθ値がデータベース化されています．分析した2θの強度パターンとデータベースを比較することで，結晶の種類と構造を知ることができます．標準的には対陰極に純銅を用いた銅管球を用い，CuKαの特性X線（波長(λ)＝1.5418Å（0.15418nm）を入射X線として用います．|
|設置場所|鉱業博物館|
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#ref(XRD_CaCO3.jpg,right,around,30%)
''CaCO3''の測定例
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#ref(XRD_LiAlO2.jpg,right,around,30%)
''LiAlO2''の測定例
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